Anar a: Buscar
FIB > Els estudis > Pla 91 > Pàgines de les assignatures > Departament ESAII > II Castellano | English
ACS
CAM
CI
CO
COI
CPR
DS
DSBMI
FTC
II
P
PA
ROB
SD
TDS
TET
VO



Instrumentació Industrial (II)




Professors Responsables: JOSEP MARIA FUERTES ARMENGOL (pepfesaii.upc.edu)
Crèdits: 4.5 (3.0 T 0.75 P 0.75 L)

Departament: ESAII

Tipus d'assignatura

Optativa per la EI

Requisits de l'assignatura

ACS - Pre-correquisit per la EI
DSBMI - Correquisit per la EI


Objectius docents

Estudiar les característiques dels senyals, la seva mesura i tractament.
Es veuen els diferents tipus d'equips, arquitectures i interconnexió
entre ells, així com els sistemes intel.ligents i d'alta fiabilitat.

Programa

1. 1.- Introducció
- Caraterístiques dels sistemes d'instrumentació industrial.

- Formes de mesura.

- Modelització i parametrització del sensor i de l'instrument.

- Conceptes bàsics: sensitivitat, precisió, soroll.

- Mesures analògiques i mesures digitals.

2. 2.- Interfície
- Sistemes d'adquisició de dades.

- Disseny d'un sistema de mesura.

- Autocalibratge i compensació d'errors.

- Sistemes de representació.

3. 3.- Processat digital del senyal en instrumentació
- Filtratge digital. Implementacions.

- Els DSP en instrumentació: convolució, i anàlisi

espectral.

- Els computadors personals en instrumentació.

4. 4.- Instrumentació en control de processos
- Transmissió del senyal. Proteccions i normes de seguretat.

- Arquitectures distribuïdes.

- Interconnexió d'instruments i dispositius. Estandards.

5. 5.- Disseny de sistemes de mesura intel.ligents
- Sistemes de mesura basats en microcomputadors.

- Instrumentació modular.

- Fiabilitat i inmunitat.

- Aplicacions.

Avaluació

L'avaluació i qualificació ve determinada per:
    - Dos parcials ( P1 i P2 ) fets al llarg del curs, amb continguts
      teòrics (T-40%) i problemes (P-60%), que permetran alliberar matèria.
    - Dues pràctiques de laboratori (L1 i L2) obligatòries.
    - Examen final de teoría i problemes, on només es faràn les parts
      que estiguin suspeses.
La nota final obtinguda (NF) serà:
L = (L1+L2) / 2
T = (P1+P2) / 2
Si  L > 4 i T > 4  llavors
             NF = 0,8 *  T + 0,2 * L
altrament
             NF = 0,8 * min ( 5, T ) +  0,2 * min ( 5, L )

Bibliografia

Bibliografia bàsica

- JOHNSON, C Process Control Instrumentation Technology Prentice Hall.,
- LANG, T.T Computerized Instrumentation ,

Informació complementària

PRÀCTIQUES
1.  Interconnectar els sensors de control d'una planta pilot (condicionat als
disponibles al laboratori) i implemetar el sistema de monitorització per
pantalla.
2.  Desenvolupar un equip de mesura en un PC, com per exemple la mesura de
qualitat d'un submistrament elèctric.


versió per imprimir